名称：X射线衍射仪

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时间：2018/12/29 0:00:00

X射线衍射仪（X-ray diffractometer）功能应用：
■能够精确地对金属和非金属多晶粉末样品进行物相检索分析、物相定量分析、晶胞参数计算和固溶体分析、微区测试。能够进行原位电池的XRD数据采集。设备包括长寿命X光管、X射线发生器、高精度测角仪、高精度样品台、X射线二维阵列探测器、计算机控制系统、数据测量和分析软件。
主要技术要求
■ 3.1 X射线光源与光管。
■ 3.1.1 X射线发生器：
■ 3.1.1.1最大输出功率≥600W；
1.1.2最大电压≥40kV：
■ 1.1.3最大电流≥15mA。
■ 3.1.2长寿命X射线光管：
■ 3.1.2.1 Cu光管，标准尺寸设计；
■ 电源电压：AC220V±15％，50Hz
■3.1.2.3 X射线防护：X射线防护：安全连锁机构、剂量优于国标，辐射量小于1?Sv/h。提供独立的安全电路.
主要技术要求
■3.2 测角仪 3.2.1测角仪为高精度涡轮蜗杆系统。
■3.2.2扫描方式：Theta /2 Theta测角仪，立式测角仪。：
■3.2.4测角仪半径：≥160 mm.
3.2.5 最小步长：0.001?，角度重现性：0.002?。
■ 3.2.6 驱动方式：步进马达.
■ 3.3探测器 3.3.1二维阵列探测器：相对与常规点探测器强度提高150倍，灵敏度提高一个数量级。
■ 3.3.2探测器面积:≥14×14mm，子通道256×256个
■ 3.3.3最大计数：≥1×108 cps 3.3.4动态范围：≥1×109 cps
■3.3.5背景：<0.1 cps 3.3.6提供的半导体阵列探测适合小角和广角测试，最低0.5度起测。 3.3.7 验收精度：刚玉标样现场检测，全谱范围内所有峰的角度偏差不超过±0.02度（20度到140度） 3.3.8可采用零维模式（点探测器），一维模式（阵列探测器）。 3.4 样品台 3.4.1标准粉末样品架 3.5 仪器控制和数据采集系统: 3.5.1 计算机：不低于：Windows 10 64位旗舰版操作系统,酷睿双核I5 3.2GHz以上, 4G以上内存,256G及以上硬盘. 3.6 仪器控制和数据采集软件：仪器控制和数据采集软件：物相分析软件：物相检索软件，可编程定量分析。无标样定量分析，无标晶粒尺寸分析。 3.7 售后技术服务 3.7.1免费进行设备安装、调试和现场操作培训，免费国内技术培训。 3.7.2 厂家在国内有维修中心，有专职的维修工程师，有备品备件库。在接到用户维修请求后，4小时内做出维修响应，2个工作日内到达用户现场。 3.8 整机质保一年。